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影響漆膜測厚儀測量精度的原因是什麽

日期:2021-01-26 06:49
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摘要:邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截麵變化處的間距小於規定的邊界間距,由於磁通或渦流載體截麵不夠將導致測量誤差。如必須測量該點的覆層厚度,隻有預先在相同條件的無覆層表麵進行校準,才能測量。
    1.邊界間距如果探頭與被測體邊界、孔眼、空腔、其他截麵變化處的間距小於規定的邊界間距,由於磁通或渦流載體截麵不夠將導致測量誤差。如必須測量該點的覆層厚度,隻有預先在相同條件的無覆層表麵進行校準,才能測量。(注:新的產品有透過覆層校準的獨特功能可達3~10%的精度)

    2.基體表麵曲率在一個平直的對比試樣上校準好一個初始值,然後在測量覆層厚度後減去這個初始值。或參照下條。

    3.基體金屬*小厚度基體金屬必須有一個給定的*小厚度,使探頭的電磁場能完全包容在基體金屬中,*小厚度與測量器的性能及金屬基體的性質有關,在這個厚度之上剛好可以進行測量而不用對測量值修正。對於基體厚度不夠而產生的影響,可以采取在基材下麵緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決斷,或無法加基材則可以通過與已知覆層厚度的試樣進行對比來確定與額定值的差值。並且在測量中考慮這點而對測量值作相應的修正或參考第2條修正。而那些可以標定的儀器通過調整旋鈕或按鍵,便可以得到準確的直讀厚度值。反之利用厚度太小產生的影響又可以研製直接測銅箔厚度的測厚儀,如前所述。

    4.表麵粗糙度和表麵清潔度在粗糙度表麵上為獲得一個有代表性的平均測量值必須進行多次測量才行。顯而易見,不論是基體或是覆層,越粗糙,測量值越不可靠。為獲得可靠的數據,基體的平均粗糙度Ra應小於覆層厚度的5%。而對於表麵雜質,則應予去除。有的儀表上下限,以剔除那些“飛點”。

    5.探頭測量板的作用力探頭測量時的作用力應是恒定的。並應盡可能小。才不致使軟的覆層發生形變,以致測量值下降。活產生大的波動,必要時,可在兩者之間墊一層硬的,不導電的,具有一定厚度的硬性薄膜。這樣通過減去薄膜厚度就能適當地得到剩磁。

    6.外界恒磁場、電磁場和基體剩磁應該避免在有幹擾作用的外界磁場附近進行測量。殘存的剩磁,根據檢測器的性能可能導致或多或少的測量誤差,但是如結構鋼,深衝成形鋼板等一般不會出現上述現象。

    7.覆層材料中的鐵磁成份和導電成份覆層中存在某些鐵磁成分,如某種顏料時,會對測量值產生影響,在這種情況下,對用作校準的對比試樣覆層應具有與被測物覆層相同的電磁特性,經校準後使用。使用的方法可以是將同樣的覆層塗在鋁或銅板試樣上,用電渦流法測試後獲得對比標準試樣。
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